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  • FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀

    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:440
  • FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)

    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Ultra
    廠商性質(zhì):代理商
    瀏覽量:855
  • FR-ES精簡薄膜厚度測量儀

    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-ES
    廠商性質(zhì):代理商
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  • FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng)

    FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準確和無損測量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。

    更新時間:2024-11-09
    型號:
    廠商性質(zhì):代理商
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  • FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動化高速薄膜厚度測量儀

    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

    更新時間:2024-11-09
    型號:FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    廠商性質(zhì):代理商
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  • Filmetrics F3-sX硅片厚度測量

    硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。

    更新時間:2024-11-09
    型號:Filmetrics F3-sX
    廠商性質(zhì):代理商
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